電気・電子情報工学系 吉村武教授らの研究グループは、大阪公立大学および米国ペンシルベニア州立大学と共同で、Mn添加BiFeO3非鉛圧電薄膜における酸素空孔の分布と移動が、電荷輸送、電気的劣化および長期信頼性を支配することを明らかにしました。
本成果は、環境負荷の低い非鉛圧電デバイスの高信頼化に向けた材料・デバイス設計指針を与えるものです。
